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X-RAY4000测厚仪

X-RAY4000测厚仪
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简单介绍

X-RAY4000测厚仪专为带状材料上的电镀层厚度测量与材料分析而设计。已经有300多套该测量系统安装于不同规模的电镀厂中。由于测量头可快速移动,即可实现对样品的多个位置进行测量。仪器的模块化设计能够根据您的特定要求,选择不同的X 射线源和探测器,以达到较好的测量效果。

产品描述

应用:

镀层厚度测量:

1、冲压带材上的电镀层厚度,如金、银、钯、镍、铜等

2、接插件生产过程中带状材料触点的电镀层厚度

3、钢带和铜带上的热镀锡层厚度

4、太阳能行业中的薄镀层

特性:

1、在运行中的生产过程进行**测量:所有硬件和软件都能满足在线测量的需要

2、通过简单操作和自动校准实现较短的时间设置

3、 X 射线源和探测器均经过比较好的匹配,非常适合特定材料的测量

4、适用范围广:可测量各种镀层结构,并可对宽度从几毫米到1米的带状材料进行测量

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