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涂镀层厚度测量仪XUV

涂镀层厚度测量仪XUV
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简单介绍

本公司提供的XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

产品描述

特性:

1、检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用

2、配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现准确测量,尤其是对轻元素的测试

3、通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试

4、准直器和滤波器可切换,因此可适用于各种材料和测试条件

应用:

涂层厚度测量

1、原子序数从Na(11)开始的轻元素镀层,可测量厚度低至纳米级

2、铝镀层和硅镀层

材料分析

1、测定宝石的真伪与原产地

2、常规材料分析和取证

3、高分辨率恒量分析

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