X射线晶体分析仪JF-2000

X射线晶体分析仪JF-2000
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  • 产品名称:X射线晶体分析仪JF-2000
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简单介绍

X射线晶体分析仪主要用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。

产品描述

X射线晶体分析仪JF-2000技术参数:

1.        管电压:1060KV由单片机自动控制(1KV/step)
2.
管电流:580mA由单片机自动控制(1mA/step)
3.
管电压、管电流稳定度≤0.3‰
4.
额定输出功率:3KW
5.
有无压、无流、过压、过流、过功率、无水、X光管超温保护

X射线晶体分析仪特点

1.冷却装置:自带制冷系统,无需外接水循环,并自动控制水温及显示X光管温度。
2.
外射线计量不大于2.5μSv/h
3.X
光管:额定功率2KW(铜靶)
4.
定时:单片机自动定时,定时时间任意选择

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